X熒光光譜儀

采用X熒光光譜儀分析馬達的固體、粉末、液體樣品等都進行分析，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完馬達中的全部待測元素 。非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好